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場發射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)

場發射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)

儀器型號:Zeiss Sigma 500
10.00~200.00

現場實驗

型號:Zeiss Sigma 500
肇慶市華師大光電產業研究院
肇慶市華師大光電產業研究院
所在地區:肇慶市四會市大旺高新區創新創業科學園
進入機構


詳細信息

云現場視頻示例鏈接:

https://www.bilibili.com/video/BV1yS4y1j7yj?spm_id_from=333.999.0.0?

儀器簡介 :

可提供形貌觀察、元素分析、不導電樣品鍍金膜服務、制樣。?

?掃描電子顯微鏡分辨率(二次電子像):不低于0.8nm/15kv?

能譜檢測極限:0.1%?

收費簡介云現場附加:

1.形貌觀察:5-8張/樣(≈15min),30元/5min(不足5mim按5min收費)。?

2.元素分析:點掃(兩個點);線掃(一個位置);Mapping(一個位置)。

3.噴金:60元/次(按尺寸)。?

4.制樣(硅片):僅限液體樣品滴在硅片上烘干制樣。

5.收費標準不區分磁性和非磁性樣品。?

服務流程:

樣品要求:

1.粉末樣品:樣品量≥3mg(磁性樣品由承檢方制樣)

2.液體樣品:樣品量≥0.5ml

3.固體樣品:長*寬*高≤50mm*50mm*15mm?

4.磁性樣品必須由測試人員進行檢查制樣。 ?


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